Propõe-se um novo método para a correção do efeito de absorção que se apresenta na difratometria de raios-x por monocristais. Visa-se particularmente a análise cristalográfica de proteínas, embora o método possa ser convenientemente utilizado também em pequenas estruturas. Primeiramente apresenta-se uma análise crítica dos procedimentos atualmente disponíveis na literatura; estes constituem a base para uma formulação alternativa que e desenvolvida em continuação. O método utiliza a informação contida nas medidas da intensidade de uma mesma reflexão, efetuada para distintos valores do ângulo azimutal, e a informação contida nas reflexões simetricamente equivalentes. A função de transmissão e desenvolvida em serie de Fourier e mediante uma aproximação convenientemente introduzida e gerada um sistema de equações lineares nos coeficientes de expansão, cuja solução e obtida pelo critério de mínimos quadrados. O procedimento pode ser usado em qualquer tipo de difratômetro de quatro círculos; em particular foi implantado para utilização com o difratômetro de geometria Kappa CAD-4, do Departamento de Física e Ciências dos Materiais de São Carlos Para esse fim foi desenvolvido um sistema automatizado de programas FORTRAN. Apresentam-se os resultados obtidos com um cristal de teste, os quais permitem uma avaliação crítica do metodo.

A new method for absorption correction of single crystal x-ray difractometric data is proposed. It is particularly aimed at crystallographic analysis of proteins although it can profitably be applied to small structures as well. First a critical review of the methods currently available in the literature is presented and then an alternative procedure is developed. The method makes use of the information contained in the intensities of a same reflection measured at different azimuthal angles and also the information contained in symmetry related reflections. The transmission function is developed in Fourier series and by introducing a convenient approximation, a linear system of equations is obtained, which is solved for the coefficients of the expansion by the least squares procedure. The method can in principle be used in conjunction with any four circle difractometer. In particular it has been implemented for the Kappa geometry CAD-4 difractometer presently in use in São Carlos at the Department of Physics and Materials Science, for which an automatized FORTRAN program has been written. Results obtained on a test crystal, which permit a critical evaluation of the method, are reported