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Tesis de Habilitación
DOI
10.11606/T.43.2016.tde-04032016-175643
Documento
Autor
Nombre completo
Cristiano Luis Pinto de Oliveira
Dirección Electrónica
Instituto/Escuela/Facultad
Área de Conocimiento
Fecha de Defensa
Publicación
São Paulo, 2016
Tribunal
Nussenzveig, Paulo Alberto (Presidente)
Coutinho, Kaline Rabelo
Cusatis, Cesar
Pirota, Kleber Roberto
Schreiner, Wido Herwig
Título en portugués
MODELAGEM DE DADOS DE ESPALHAMENTO E DIFRAÇÃO A BAIXOS ÂNGULOS
Palabras clave en portugués
1.Teoria do espalhamento; 2. Difração por raios X; 3. Modelagem de dados; 4. Raios X; 5. Espalhamento de raios x a baixos ângulos
Resumen en portugués
Para a investigação da estrutura da matéria diversos métodos experimentais podem ser utilizados. Dentre um número muito grande de técnicas, os assim chamados métodos espectroscópicos são amplamente utilizados para o estudo dos mais variados tipos de sistemas. Uma grande classe de métodos espectroscópicos são os métodos de espalhamento de radiação, particularmente luz visível e raios X, bem como espalhamento de nêutrons. Além das dificuldades de realização deste tipo de experimentos, existem dificuldades iguais ou maiores na correta análise e interpretação dos resultados. Nesta tese de livre docência apresento uma descrição detalhada de métodos de simulação, análise e modelagem de dados experimentais de espalhamento a baixos ângulos que são utilizados em uma vasta gama de aplicações, permitindo a correta análise e descrição de dados experimentais obtidos, bem como a obtenção de parâmetros estruturais pertinentes. Métodos inovadores de analise e modelagem de dados de espalhamento foram desenvolvidos e são aplicados na interpretação de diversos sistemas, acoplando fatores de forma e de estrutura. Como resultado informações estruturais inéditas puderam ser obtidas para estes sistemas, demonstrando a potencialidade e aplicabilidade destas técnicas quando combinadas com os métodos desenvolvidos.
Título en inglés
MODELING SMALL ANGLE SCATTERING AND DIFFRACTION DATA
Palabras clave en inglés
1.Scattering Theory; 2. X-ray Diffraction; 3. Data Modeling; 4. X-Rays; 5. Small Angle X-Ray Scattering
Resumen en inglés
For the investigation of the structure of matter several experimental approaches can be applied. The so called spectroscopic methods are widely used for the structural characterization of several systems. A large class of such methods is the scattering methods: Light scattering, X-ray scattering and Neutron Scattering. Besides the experimental limitations of these methods, the main difficulties are the correct analysis and interpretation of the experimental data. In this thesis it is presented a detailed description of different types of simulation, analysis and modeling methods applied to the interpretation of small angle scattering data is presented, on a large set of applications, permitting the correct data analysis and the retrieval of structural parameters. Innovative modeling and analysis methods were developed and are applied to several systems, combining form factor and structure factors. As a result, novel structural information could be obtained for the studied systems, demonstrating the potential and applicability of these techniques when combined with the developed methods.
 
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Fecha de Publicación
2016-03-14
 
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