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Mémoire de Maîtrise
DOI
10.11606/D.54.1988.tde-27032015-165146
Document
Auteur
Nom complet
Victor Hugo Etgens
Unité de l'USP
Domain de Connaissance
Date de Soutenance
Editeur
São Carlos, 1988
Directeur
Jury
Denicolo, Ireno
Rodrigues, Antonio Ricardo Droher
Torriani, Iris C Linares de
Titre en portugais
Desenvolvimento e aplicação de câmara topográfica de Lang
Mots-clés en portugais
Não disponível
Resumé en portugais
Este trabalho trata do estudo de monocristais utilizando difração de raios-x (Câmara de Lang) a qual foi aplicada ao estudo de monocristais de silício e de sulfato de triglicina. No estudo de monocristais de silício, abordou-se detalhadamente a técnica de decoração de defeitos utilizando cobre como agente decorador. Foram analisadas topografias obtidas de ambos os cristais visando uma descrição qualitativa da perfeição cristalina dos mesmos
Titre en anglais
Not available
Mots-clés en anglais
Not available
Resumé en anglais
The porpouse of this work is to study single crystals using x-ray diffraction techniques. Na x-ray topographic camera (Lang camera) was developed and applied to study silicon and triglicine sulfate single crystals. Copper decoration was used to reveal deffects in silicon crystals. The topographies obtained from both crystals were analized for an qualitative description of their crystalline perfection
 
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VictorHugoEtgensM.pdf (4.80 Mbytes)
Date de Publication
2015-03-31
 
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