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Mémoire de Maîtrise
DOI
10.11606/D.54.1988.tde-14102014-101324
Document
Auteur
Nom complet
José Antonio Malmonge
Unité de l'USP
Domain de Connaissance
Date de Soutenance
Editeur
São Carlos, 1988
Directeur
Jury
Giacometti, José Alberto (Président)
Ferreira, Guilherme Fontes Leal
Mergulhão, Sérgio
Titre en portugais
Técnica de correntes termo-estimulada em circuito aberto. Aplicação ao estudo do transporte de cargas no polímero PETP
Mots-clés en portugais
Circuito aberto
Corrente termo estimulada
PETP
Transporte de cargas elétricas
Resumé en portugais
Foi construída uma nova versão de um sistema para medidas de correntes termo-estimuladas em circuito aberto (DTE). Mostrou-se que no Teflon FEP, carregado com corona negativa, os ruídos que aparecem nas curvas de DTE , que são devidos a micro rupturas elétricas na amostra, causam uma variação de potencial considerável na mesma. Verificou-se também que a corrente anômala originada pelo deslocamento de cargas na camada de ar entre a amostra e a placa sensora pode perturbar as medidas de DTE com amostras virgens carregadas positivamente. A inversão de polaridade da corrente nas medidas de DTE na região próxima a temperatura ambiente, foi explicado como sendo devido a variação da capacitância da amostra em função da temperatura. Medidas de DTE, realizadas com o polímero PETP (Mylar), mostraram que o processo de transporte que dá origem ao pico de corrente acima de 100 C é devido a uma condutividade intrínseca originária da geração de portadores em centros neutros de ionização. Essa geração possui uma dependência com o campo elétrico do tipo Poole-Frenkel e a mobilidade dos portadores livres, depende do volume livre o qual tem valor maior que o de equilíbrio abaixo da temperatura da transição vítrea
Titre en anglais
Thermo stimulated technique in open circuit. Application to the investigation of charge transport in PETP polymer
Mots-clés en anglais
Electric charge transport
Open circuit
PETP
Thermo stimulated current
Resumé en anglais
A new version of thermo stimulated current setup (DTE) in open circuit was built. It was shown in measurements electric noise is present in the DTE curve in Tefon FEP negatively charged which is due to micro electric breakdown in the sample. It was also found that the electric current in air gap between the sample surface and the sensor plate can disturb DTE measurements performed in positively charged samples. The polarity inversion on the DTE curves at room temperature range is due to the capacitance variation with the temperature. DTE measurements on PETP (Mylar) showed that the charge transport gives a current peak at 100 C due to an intrinsic conductivity generated by carriers from ionization centers. This process is described by a Poole-Frenkel
 
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Date de Publication
2014-10-20
 
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