O presente trabalho faz um estudo do efeito do campo elétrico sobre a eficiência de separação de buracos e elétrons gerados, por um pulso de luz, numa camada próxima da superfície de um isolante. Obtém-se a fração de portadores que é retirada da camada superficial, pelo campo elétrico aplicado, e que entra no interior da amostra. Assume-se que o excesso de carga é instantaneamente produzido por um pulso de luz fortemente absorvido, e que os eletrodos são bloqueantes, evitando injeção secundária. A solução analítica exata é obtida para o caso em que os elétrons e buracos são criados aos pares, e estão sujeitos à recombinação do tipo bimolecular. Num segundo caso, considera-se o mecanismo de fotogeração extrínseco, e os buracos livres podem se recombinar indiretamente com elétrons aprisionados e os elétrons livres podem ser capturados por armadilhas profundas. Impondo-se a condição de que os buracos são muito mais móveis que os elétrons, obtêm-se uma solução numérica que é apresentada graficamente

The effect of the electric field on the efficiency of separation of electrons and holes generated by a strongly absorbed light pulse is studied in two cases. The fraction of carriers that enters the electrode and the one that goes into the sample is calculated assuming instantaneous generation. In the first, carriers are created in pairs and bimolecular recombination prevails. In the second, a photo-generation extrinsic mechanism is assumed, in which generated free holes recombine with trapped electrons present at the surface and electrons excited, out of traps may be captured again. In this last case, the mobility of the holes is assumed to be much larger than the one of the electrons. The numerical solution was found and conveniently ploted