Dissertação de Mestrado
DOI
https://doi.org/10.11606/D.54.1989.tde-08062009-094348
Documento
Autor
Nome completo
Newton La Scala Junior
Unidade da USP
Área do Conhecimento
Data de Defesa
Imprenta
São Carlos, 1989
Orientador
Banca examinadora
Castro Neto, Jarbas Caiado de (Presidente)
Bagnato, Vanderlei Salvador
Vieira Junior, Nilson Dias
Bagnato, Vanderlei Salvador
Vieira Junior, Nilson Dias
Título em português
Estabilização de lasers de semicondutores.
Palavras-chave em português
Lasers
Medidor de onda
Propriedades ópticas
Semicondutores
Medidor de onda
Propriedades ópticas
Semicondutores
Resumo em português
Neste trabalho apresentamos uma instrumentação que é capaz de estabilizar e medir o comprimento de onda emitido por um laser de semicondutor em 1 parte de 106. Para obtermos essa precisão foi necessário desenvolver um controlador de temperatura, uma fonte de corrente e um medidor de onda.
Título em inglês
Stabilization of semiconductor lasers.
Palavras-chave em inglês
Lasers
Optical properties
Semiconductors
Wavemeter
Optical properties
Semiconductors
Wavemeter
Resumo em inglês
In this work we present an instrumentation that is able to stabilize and measure the semiconductor laser wavelength with a precision of 1 part in 106. To obtain this precision was necessary to develop a temperature controller, current source and wave meter.
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Este trabalho é somente para uso privado de atividades de pesquisa e ensino. Não é autorizada sua reprodução para quaisquer fins lucrativos. Esta reserva de direitos abrange a todos os dados do documento bem como seu conteúdo. Na utilização ou citação de partes do documento é obrigatório mencionar nome da pessoa autora do trabalho.
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Data de Publicação
2009-06-15
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