Mémoire de Maîtrise
DOI
https://doi.org/10.11606/D.54.1989.tde-08062009-094348
Document
Auteur
Nom complet
Newton La Scala Junior
Unité de l'USP
Domain de Connaissance
Date de Soutenance
Editeur
São Carlos, 1989
Directeur
Jury
Castro Neto, Jarbas Caiado de (Président)
Bagnato, Vanderlei Salvador
Vieira Junior, Nilson Dias
Bagnato, Vanderlei Salvador
Vieira Junior, Nilson Dias
Titre en portugais
Estabilização de lasers de semicondutores.
Mots-clés en portugais
Lasers
Medidor de onda
Propriedades ópticas
Semicondutores
Medidor de onda
Propriedades ópticas
Semicondutores
Resumé en portugais
Neste trabalho apresentamos uma instrumentação que é capaz de estabilizar e medir o comprimento de onda emitido por um laser de semicondutor em 1 parte de 106. Para obtermos essa precisão foi necessário desenvolver um controlador de temperatura, uma fonte de corrente e um medidor de onda.
Titre en anglais
Stabilization of semiconductor lasers.
Mots-clés en anglais
Lasers
Optical properties
Semiconductors
Wavemeter
Optical properties
Semiconductors
Wavemeter
Resumé en anglais
In this work we present an instrumentation that is able to stabilize and measure the semiconductor laser wavelength with a precision of 1 part in 106. To obtain this precision was necessary to develop a temperature controller, current source and wave meter.
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Date de Publication
2009-06-15
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