Disertación de Maestría
DOI
https://doi.org/10.11606/D.54.1989.tde-08062009-094348
Documento
Autor
Nombre completo
Newton La Scala Junior
Instituto/Escuela/Facultad
Área de Conocimiento
Fecha de Defensa
Publicación
São Carlos, 1989
Director
Tribunal
Castro Neto, Jarbas Caiado de (Presidente)
Bagnato, Vanderlei Salvador
Vieira Junior, Nilson Dias
Bagnato, Vanderlei Salvador
Vieira Junior, Nilson Dias
Título en portugués
Estabilização de lasers de semicondutores.
Palabras clave en portugués
Lasers
Medidor de onda
Propriedades ópticas
Semicondutores
Medidor de onda
Propriedades ópticas
Semicondutores
Resumen en portugués
Neste trabalho apresentamos uma instrumentação que é capaz de estabilizar e medir o comprimento de onda emitido por um laser de semicondutor em 1 parte de 106. Para obtermos essa precisão foi necessário desenvolver um controlador de temperatura, uma fonte de corrente e um medidor de onda.
Título en inglés
Stabilization of semiconductor lasers.
Palabras clave en inglés
Lasers
Optical properties
Semiconductors
Wavemeter
Optical properties
Semiconductors
Wavemeter
Resumen en inglés
In this work we present an instrumentation that is able to stabilize and measure the semiconductor laser wavelength with a precision of 1 part in 106. To obtain this precision was necessary to develop a temperature controller, current source and wave meter.
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Este documento es únicamente para usos privados enmarcados en actividades de investigación y docencia. No se autoriza su reproducción con finalidades de lucro. Esta reserva de derechos afecta tanto los datos del documento como a sus contenidos. En la utilización o cita de partes del documento es obligado indicar el nombre de la persona autora.
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Fecha de Publicación
2009-06-15
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