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Mémoire de Maîtrise
DOI
10.11606/D.54.1986.tde-06042009-105846
Document
Auteur
Nom complet
Celso Xavier Cardoso
Unité de l'USP
Domain de Connaissance
Date de Soutenance
Editeur
São Carlos, 1986
Directeur
Jury
Alfaro, Renê Armando Moreno
Ferreira, Guilherme Fontes Leal
Gross, Bernhard
Titre en portugais
Estudo das propriedades de transporte e armazenamento de cargas elétricas em filmes de Teflon FEP.
Mots-clés en portugais
Cargas elétricas
Corrente Termo-estimuladas
Pulso térmico
Teflon-FEP
Resumé en portugais
No estudo do transporte e armazanamento de cargas elétricas, em filmes de Teflon FEP, utilizamos a Técnica de Pulso Térmico em conjunto com a Técnica de Corrente Termoestimulada em circuito aberto. Através das duas técnicas, pudemos acompanhar a evolução das cargas nas amostras (de 25 μm) submetidas ao Annealing e a descarga iônica em diferentes situações, comparando os resultados obtidos em amostras virgens com as amostras tratadas ou irradiadas. No caso das amostras irradiadas, verificamos que o contato era injetor de buracos e, posteriormente, sugerimos a dependência da mobilidade de buracos com o campo elétrico aplicado. Na tentativa de explicar os resultados obtidos, fizemos uso de alguns modelos teóricos de correntes limitadas por carga espacial.
Titre en anglais
Study of the transport and storage properties of electric charges in Teflon FEP films.
Mots-clés en anglais
Electric charges
Teflon-FEP
Thermal stimulated current
Thermal-pulse
Resumé en anglais
The Heat Pulse and TSC (Thermo-Stimulated-Current) in open circuit techniques were used to study the transport and storage of injected charge in Teflon FEP films. Using these techniques it was possible to follow the evolution of the injected charge inside the samples. Virgin samples (as received), previously annealed samples and previously ionic bombarded samples were used. The results of treated samples were compared with the results of virgin samples. Aluminum evaporate contacts covering ionic bombarded surface show hole injection properties. Measurement of space charge limited currents shows a mobility dependent of the electrical field (μ α E-1/2).
 
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Date de Publication
2009-04-08
 
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