O sucesso obtido, recentemente, na aplicação do modelo móvel de Preisach (MMP) em materiais nanocristalinos motivou-nos a aplicar o modelo em outros sistemas. Preparamos filmes finos de SmCo pelo processo de sputtering. As caracterizações da composição e da espessura do filme foram feitas por medidas de retroespalhamento Rutherford (RBS) e/ou por medidas de espectroscopia de energia dispersiva (EDS). Quando foram comparados os resultados estavam em completo acordo. Determinamos a textura e a composição dos filmes por difração de raios X, associada à simulação pelo método Rietveld. A caracterização magnética dos filmes foi feita utilizando um eletroímã com magnetômetro de amostra vibrante (MAV). Foram encontradas três fases nos filmes: 'SmCo IND.5' 'SmCo IND.7' e uma fase amorfa. As fases duras, com estruturas 'SmCo IND.5' e 'SmCo IND.7', revelaram-se fortemente acopladas. Os filmes que foram depositados à 500 'GRAUS' mostraram forte acoplamento entre a(s) fase(s) dura(s) e mole, enquanto os que foram depositados à 350 'GRAUS' apresentaram um pequeno acoplamento entre a(s) fase(s) dura(s) e mole. Um simulador foi desenvolvido e implementado para a aplicação do MMP. Este programa apresenta três características extremamente importantes, em relação ao anteriormente disponível: alta velocidade de processamento, maior precisão nos cálculos e generalização na entrada de dados experimentais e simulados foram menores no caso em que o acoplamento entre as fases duras e mole é pequeno. As dificuldades com o modelo foram associadas à representação, através de uma gaussiana e à complexidade microestrutural dos filmes

Magnetic and structural characterization of SmCo thin films