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Tese de Doutorado
DOI
https://doi.org/10.11606/T.43.2004.tde-26022014-093131
Documento
Autor
Nome completo
Leonidas Lopes de Melo
Unidade da USP
Área do Conhecimento
Data de Defesa
Imprenta
São Paulo, 2004
Orientador
Banca examinadora
Salvadori, Maria Cecilia Barbosa da Silveira (Presidente)
Andrade, Adnei Melges de
Caldas, Ibere Luiz
Leite, Nélia Ferreira
Quivy, Alain Andre
 
Título em português
Dinâmica de crescimento de filmes de platina e ouro
Palavras-chave em português
Filmes finos (crescimento)
Filmes finos (modelos de deposição)
Microscópio de tunelamento
Rugosidade superficial
Resumo em português
O caráter aleatório e não homogêneo do crescimento de filmes finos, por processo de deposição, leva à formação de uma superfície rugosa que obedece, em geral, a uma geometria fractal. A dinâmica de crescimento da superfície do filme pode ser descrita por meio de modelos de crescimento discretos, simulações numéricas e equações diferenciais estocásticas. Os modelos e as equações nos fornecem os expoentes críticos, que descrevem o comportamento da rugosidade com a escala de observação e tempo de deposição. Crescemos filmes de platina e ouro através da técnica de implantação e deposição de íons por imersão em plasma metálico. Determinamos experimentalmente os expoentes críticos por meio de microscopia de tunelamento. Comparamos os nossos resultados experimentais com previsões dadas por alguns modelos teóricos. Verificamos que há um bom acordo entre eles e as previsões dadas pela equação estocástica de Kardar, Parisi e Zhang. A estrutura cristalina dos materiais também foi analisada por meio de difração de raios x.
 
Título em inglês
Growth dynamics of films of platinum and gold.
Palavras-chave em inglês
Surface roughness
Thin films (deposition models)
Thin films (growth)
Tunneling microscope
Resumo em inglês
The randomness and inhomogeneities in the growth of thin films generate a rough surface obeying, in general, fractal geometry. The growth dynamics of film surface can be described by theoretical discrete models, numerical simulations and stochastic differential equations. Models and equations give the critical exponents that describe the behavior of roughness with the observation scale and deposition time. We have synthesized platinum and gold films by metal plasma immersion ion implantation and deposition. We have measured the critical exponents by Scanning Tunneling Microscopy. Our experimental results were compared with some theoretical models predictions. We verified that there is a good agreement between them and the theoretical predictions given by the Kardar, Parisi and Zhang stochastic equation. The crystallographic structure was also analyzed by X-ray diffraction.
 
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RE44977Melo.pdf (32.32 Mbytes)
Data de Publicação
2014-02-26
 
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