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Tese de Doutorado
DOI
https://doi.org/10.11606/T.43.1999.tde-24022014-112613
Documento
Autor
Nome completo
Fernando de Brito Mota
Unidade da USP
Área do Conhecimento
Data de Defesa
Imprenta
São Paulo, 1999
Orientador
Banca examinadora
Fazzio, Adalberto (Presidente)
Antonelli, Alex
Canuto, Sylvio Roberto Accioly
Silva, José Humberto Dias da
Verdonck, Patrick Bernard
Título em português
Propriedades Eletrônicas e Estruturais do Nitreto de Silício na Fase Amorfa
Palavras-chave em português
Amorfos
Nitreto de silício
Propriedades eletrônicas
Propriedades estruturais
Simulação Monte Carlo
Resumo em português
Neste trabalho desenvolvemos um potencial empírico para descrever as ligações químicas entre os átomos de silício, nitrogênio e hidrogênio usando a forma funcional de Tersoff. Exploramos as propriedades estruturais do nitreto de silício amorfo (a-SiNx:Hy) via simulação Monte Carlo e comparamos com dados experimentais. A boa descrição do sistema a-SiNx:Hy, para uma faixa de valores da concentração de nitrogênio (0
Título em inglês
Structural and Electronic Properties of Silicon Nitride on Amorphous Phase
Palavras-chave em inglês
Amorphous
Electronic properties
Monte Carlo simulation
Silicon nitrate
Structural properties
Resumo em inglês
In this work we developed an empirical potential to describe the chemical bond among silicon, nitrogen and hydrogen atoms using the Tersoff functional form. We explored the structural properties of amorphous silicon nitride (a-SiNx:H,) through the Monte Carlo simulations and compared with experimental data. The good description of the a-SiNx:Hy, systems for a wide range of nitrogen contents (0
 
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RE40513Mota.pdf (44.77 Mbytes)
Data de Publicação
2014-02-24
 
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