Construímos um magnetômetro a efeito Kerr na configuração polar (MEK-pol) que permite fazer medidas com a amostra entre 7 a 400K em campos magnéticos de até 20kOe. Esse equipamento possibilita obter informações sobre a componente perpendicular da magnetização das amostras e foi adaptado a outro que fornece dados relativos a componentes planar, aumentando sua capacidade de caracterização. Para testar esse sistema, foram utilizados filmes finos amorfos de Tb-Fe e Tb-Fe-Co, com 20 a 30% detérbio, pois eles podem apresentar anisotropia magnética perpendicular ao plano do filme. Os filmes foram produzidos por sputterings, têm espessura entre 800Á e 1000Á e sua caracterização magnética foi feita com um magnetômetro de amostra vibrante (MAV), à temperatura ambiente e com um SQUID. Essas informações foram usadas como parâmetro para os testes com o MEK-pol demonstraram que o equipamento é estável, mesmo para medidas em baixas temperaturas e que é uma ferramenta importante na caracterização magneto óptica de filmes finos Magnetismo e Materiais Magnéticos

Magnetooptic and magnetic characterization of rare earth-Fe-Co amorphous thin films