Dissertação de Mestrado

Documento
Dissertação de Mestrado
Nome completo
Henrique Estanislau Maldonado Peres
Unidade da USP
Escola Politécnica
Programa ou Especialidade
Data de Defesa
1996-09-02
Imprenta
São Paulo, 1996
Banca examinadora
Fernandez, Francisco Javier Ramírez (Presidente)
Martino, João Antonio
Martins, Jose Manuel de Vasconcelos
Título em português
Implantação iônica de hidrogênio em silício monocristalino.
Palavras-chave em português
Microeletrônica
Resumo em português
O objetivo deste trabalho é estudar a implantação iônica de hidrogênio a fim de obter regiões superficiais de boa qualidade sobre uma camada enterrada de alta resistividade, causada pela danificação da rede cristalina na introdução do hidrogênio. Para isso, primeiramente são procuradas diferentes fontes de hidrogênio, buscando tornar operacional esta implantação no laboratório de microeletrônica da USP. Em seguida são realizadas implantações de hidrogênio seguidas de recozimentos térmicos rápido e convencional. Constata-se a obtenção de camadas enterradas de alta resistividade pelas técnicas de revelação química de defeitos e medida do perfil da resistência de espraiamento. Numa segunda etapa são construídos resistores, diodos e estruturaVan Der Pauw. Com os resistores avalia-se a resistividade média da camada enterrada. Com os diodos avalia-se a qualidade superficial pela análise do fator de idealidade e corrente de saturação. Com a estrutura Van Der Pauw é medida a resistividade da camada superficial. Conclui-se que a implantação de hidrogênio é obtida com operacionalidade satisfatória, que é possível obter camadas de alta resistividade com estabilidade térmica, mas para obtenção de uma melhor qualidade cristalina superficial, é necessário um estudo mais direcionado para esta questão.
Título em inglês
Untitled in english
Palavras-chave em inglês
Microelectronics
Resumo em inglês
The purpose of this work is to study hydrogen ion implantation with the aim to obtain an stable structure formed by an improved quality surface region over a damaged high resistivity buried layer. Firstly, many hydrogen sources are experimented to obtain an operational condition for hydrogen implantation. Afterwards, hydrogen implantations are made followed by rapid and conventional termal annealings over the samples. The existence of a high resistivity buried layer is verified by spreading resistance probe technique and its damaged structure is verified by chemical defect. Decoration technique. Finally, resistors, diodes and a Van Der Pauw structure are processed to estimate the buried layer resistivity and to evaluate the surface quality. It is concluded that: operational conditions for hydrogen implantation are satisfactory and it is possible to obtain stable high resistivity layers. However, to obtain improved quality surfaces, more directioned studies are necessary.

AVISO - A consulta a este documento fica condicionada na aceitação das seguintes condições de uso: Este trabalho é somente para uso privado de atividades de pesquisa e ensino. Não é autorizada sua reprodução para quaisquer fins lucrativos. Esta reserva de direitos abrange a todos os dados do documento bem como seu conteúdo. Na utilização ou citação de partes do documento é obrigatório mencionar nome da pessoa autora do trabalho.

Data de Publicação
2024-08-27

Trabalhos decorrentes

AVISO: Saiba o que são os trabalhos decorrentes clicando aqui.

Serviços

Carregando...