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Dissertação de Mestrado
DOI
https://doi.org/10.11606/D.54.1988.tde-27032015-165146
Documento
Autor
Nome completo
Victor Hugo Etgens
Unidade da USP
Área do Conhecimento
Data de Defesa
Imprenta
São Carlos, 1988
Orientador
Banca examinadora
Denicolo, Ireno
Rodrigues, Antonio Ricardo Droher
Torriani, Iris C Linares de
Título em português
Desenvolvimento e aplicação de câmara topográfica de Lang
Palavras-chave em português
Não disponível
Resumo em português
Este trabalho trata do estudo de monocristais utilizando difração de raios-x (Câmara de Lang) a qual foi aplicada ao estudo de monocristais de silício e de sulfato de triglicina. No estudo de monocristais de silício, abordou-se detalhadamente a técnica de decoração de defeitos utilizando cobre como agente decorador. Foram analisadas topografias obtidas de ambos os cristais visando uma descrição qualitativa da perfeição cristalina dos mesmos
Título em inglês
Not available
Palavras-chave em inglês
Not available
Resumo em inglês
The porpouse of this work is to study single crystals using x-ray diffraction techniques. Na x-ray topographic camera (Lang camera) was developed and applied to study silicon and triglicine sulfate single crystals. Copper decoration was used to reveal deffects in silicon crystals. The topographies obtained from both crystals were analized for an qualitative description of their crystalline perfection
 
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VictorHugoEtgensM.pdf (4.80 Mbytes)
Data de Publicação
2015-03-31
 
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