Este trabalho trata do estudo de monocristais utilizando difração de raios-x (Câmara de Lang) a qual foi aplicada ao estudo de monocristais de silício e de sulfato de triglicina. No estudo de monocristais de silício, abordou-se detalhadamente a técnica de decoração de defeitos utilizando cobre como agente decorador. Foram analisadas topografias obtidas de ambos os cristais visando uma descrição qualitativa da perfeição cristalina dos mesmos

The porpouse of this work is to study single crystals using x-ray diffraction techniques. Na x-ray topographic camera (Lang camera) was developed and applied to study silicon and triglicine sulfate single crystals. Copper decoration was used to reveal deffects in silicon crystals. The topographies obtained from both crystals were analized for an qualitative description of their crystalline perfection