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Dissertação de Mestrado
DOI
https://doi.org/10.11606/D.54.1988.tde-27032015-102400
Documento
Autor
Nome completo
Washington Luiz Alves Correa
Unidade da USP
Área do Conhecimento
Data de Defesa
Imprenta
São Carlos, 1988
Orientador
Banca examinadora
Gupta, Hari Mohan (Presidente)
Castro, Antonio Rubens Brito de
Ferreira, Guilherme Fontes Leal
Título em português
Teoria da caracteristica eletrica nao-estavel da estrutura metal-oxido-isolante-metal
Palavras-chave em português
Não disponível
Resumo em português
No presente trabalho desenvolvemos a teoria da característica elétrica não estável da estrutura metal-óxido-isolante-metal com contato bloqueante, levando em consideração que: I) A mobilidade dos elétrons (ou lacunas) não é constante, ela é uma função do campo elétrico e da temperatura; II) Existe uma camada de óxido entre o contato metal-isolante, esta fina camada de óxido nos leva a um modelo mais completo da estrutura MIM, que devido a camada de óxido chamaremos de estrutura MOIM; III) Existe uma grande quantidade de estados de superfície próxima a interface óxido-isolante. A partir das considerações acima desenvolvemos a característica elétrica não-estável térmica e calculamos teoricamente a expressão para a temperatura onde a corrente é máxima, a espessura da região de depleção é considerada constante e a densidade de carga dentro da região de depleção é variável.
Título em inglês
Not available
Palavras-chave em inglês
Not available
Resumo em inglês
In this work, we have developed a theory of the non-steady state characteristic of the metal-oxide-insulator-metal structure having blocking contacts, considering that: I) The mobility of the electrons (or holes) is not Constant, it is a function of the electrical field and of the temperatures; II) There is a thin film of oxide in between metal and insulator contact. This thin film of oxide take us to a complete modelo f metal-insulator-metal strucure. We call this structure metal-oxide-insulator-metal (MOIM); III) There is a big quantity of surface states near the oxide-insulator interface. We have developed the non-steady state thermal characteristics and calculated theoretically the expression for the temperature of maximum current. The thickness of the depletion region is considered Constant and the density of charge inside the depletion region variable
 
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Data de Publicação
2015-03-31
 
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