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Tese de Doutorado
DOI
10.11606/T.43.2007.tde-11092007-153535
Documento
Autor
Nome completo
Narcizo Marques de Souza Neto
E-mail
Unidade da USP
Área do Conhecimento
Data de Defesa
Imprenta
São Paulo, 2007
Orientador
Banca examinadora
Santos, Antonio Domingues dos (Presidente)
Azevedo, Gustavo de Medeiros
Craievich, Aldo Felix
Lima, Luiz Carlos Sampaio
Macedo, Waldemar Augusto de Almeida
Título em português
Perfis de ordem local e anisotropia magnética em filmes finos: A contribuição de espectroscopias de raios X em incidência rasante
Palavras-chave em português
absorção
espectroscopia
filmes finos
incidência rasante
magnetismo
raios X
Resumo em português
Filmes finos magnéticos têm grande apelo em mídias de gravação com alta densidade de dados. As propriedades magnéticas desses filmes, que dependem da estrutura atômica do material, podem ser modificadas ou induzidas pela presença de interfaces internas. Para o entendimento e melhoramento dessas propriedades, torna-se necessário o uso de técnicas capazes de fornecer informações seletivamente em profundidade. Neste trabalho, acoplamos a espectroscopia de absorção de raios X (XAS) à uma geometria de incidência rasante, e assim usamos a variação da penetração dos raios X dentro do material em torno do ângulo crítico de reflexão total para obter informações resolvidas em profundidade sobre a ordem estrutural e magnética local. Desenvolvemos uma metodologia de medidas e de análise desta informação. Esta metodologia foi aplicada em filmes de FePt e CoPt que produzimos pela técnica de deposição catódica. Em filmes de FePt, uma análise quantitativa completa nos permitiu caracterizar a camada de oxidação da superfície. Em filmes de CoPt, observamos que a ordem química, responsável pela anisotropia perpendicular é parcialmente perdida em grandes profundidades além da superfície para filmes de espessura superior a 50 nm. A presença desta camada desordenada, confirmada por espalhamento ressonante de raios X, explica a incomum dependência em espessura das propriedades magnéticas do sistema estudado.
Título em inglês
Local order profile and magnetic anisotropy in thin films: The contribution of the X-ray espectroscopy in grazing incidence
Palavras-chave em inglês
grazing incidence
magnetism
spectroscopy
synchrotron
thin films
x-ray
x-ray absorption
Resumo em inglês
Magnetic thin films have great appeal in recording media with high data density. The magnetic properties of these films, depending on the material atomic structure, may be modified or induced by the presence of intern interfaces. For the understanding and improving of these properties, becomes necessary the use of techniques able to provide in depth selective information. In this work, we put together the X-ray absorption spectroscopy (XAS) to a grazing incidence setup, and then we use the variation of X-ray penetration inside the material around the critical angle to get depth resolved information about the structural and magnetic local order. We developed a measurements and analysis methodology of this information. This methodology were applied in FePt and CoPt films which we produced by the magnetron sputtering technique In FePt films, a complete quantitative analysis allowed us characterize a surface oxidized layer. In CoPt films, we observed the chemical order, responsible for the perpendicular anisotropy, is partially lost in high depths away from the surface for films thicker than 50 nm. The presence of this disordered layer, confirmed by resonant magnetic X-ray scattering, explains the unconventional in depth dependence of the studied system magnetic properties.
 
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tese.pdf (5.14 Mbytes)
Data de Publicação
2007-10-02
 
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