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Tesis Doctoral
DOI
10.11606/T.43.1999.tde-24022014-112613
Documento
Autor
Nombre completo
Fernando de Brito Mota
Instituto/Escuela/Facultad
Área de Conocimiento
Fecha de Defensa
Publicación
São Paulo, 1999
Director
Tribunal
Fazzio, Adalberto (Presidente)
Antonelli, Alex
Canuto, Sylvio Roberto Accioly
Silva, José Humberto Dias da
Verdonck, Patrick Bernard
Título en portugués
Propriedades Eletrônicas e Estruturais do Nitreto de Silício na Fase Amorfa
Palabras clave en portugués
Amorfos
Nitreto de silício
Propriedades eletrônicas
Propriedades estruturais
Simulação Monte Carlo
Resumen en portugués
Neste trabalho desenvolvemos um potencial empírico para descrever as ligações químicas entre os átomos de silício, nitrogênio e hidrogênio usando a forma funcional de Tersoff. Exploramos as propriedades estruturais do nitreto de silício amorfo (a-SiNx:Hy) via simulação Monte Carlo e comparamos com dados experimentais. A boa descrição do sistema a-SiNx:Hy, para uma faixa de valores da concentração de nitrogênio (0
Título en inglés
Structural and Electronic Properties of Silicon Nitride on Amorphous Phase
Palabras clave en inglés
Amorphous
Electronic properties
Monte Carlo simulation
Silicon nitrate
Structural properties
Resumen en inglés
In this work we developed an empirical potential to describe the chemical bond among silicon, nitrogen and hydrogen atoms using the Tersoff functional form. We explored the structural properties of amorphous silicon nitride (a-SiNx:H,) through the Monte Carlo simulations and compared with experimental data. The good description of the a-SiNx:Hy, systems for a wide range of nitrogen contents (0
 
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RE40513Mota.pdf (44.77 Mbytes)
Fecha de Publicación
2014-02-24
 
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