Este trabalho apresenta o estudo e o desenvolvimento de dois arranjos de interferometria holográfica utilizando como meio de registro holográfico cristais fotorrefrativos de Bi12TiO20 (BTO). O primeiro arranjo utiliza dois lasers de diodo sintonizáveis, emitindo em comprimentos de onda diferentes, em torno de 660 nm. Neste caso, a imagem holográfica do objeto estudado surge coberta de franjas de interferência que descrevem o relevo de sua superfície. O comprimento de onda sintético, que define a resolução do sistema na análise de superfícies, foi ajustado de modo a adequá-lo ao relevo da superfície estudada. A superfície de dois circuitos integrados e o relevo de uma moeda foram analisados, através de métodos de deslocamento de fase. O segundo arranjo gerou imagens holográficas e interferogramas, também com cristais BTO, através da montagem de Denisiuk para holografia de reflexão. Através da incorporação de um divisor de feixes polarizante, conseguiu-se melhorar a qualidade das imagens holográficas e reduzir o ruído. Medidas de deformação e vibração em pequenos objetos foram realizadas, assim como o estudo da dependência da intensidade do sinal holográfico sobre a orientação do cristal BTO.

This work presents the study and the development of two optical setups using Bi12TiO20 (BTO) photorefractive crystals for holographic interferometry. The first one employs two tunable diode lasers emitting at slightly different wavelengths around 660 nm. In this case, the holographic image of the studied object appears modulated by interference contour fringes. The resulting synthetic wavelength which determines the system resolution was selected in order to make it suitable for measuring the surface relief. The surfaces of two integrated circuits and a coin were analyzed with the help of phase shifting methods. The second BTO-based setup generated holographic images and interferograms through the Denisiuk scheme for reflection holography. The interferogram visibility and the optical noise were significantly reduced by using a polarizing beam splitter. Deformation and vibration measurements were performed, and the dependence of the reconstructed wave intensity on the BTO crystal orientation was studied as well.